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MU-MIMO test

channel emulator based MIMO OTA enviornment.

When signal go through F8, it will take around 2-3us delay to pass.

For many chipsets, this is too long and sometime AP cannot even build connection with Client, or show very low throughput like you have seen. So, for chipset companies, they usually will set this SIFS longer when testing with F8.


OTA測試

SISO OTA的概念很簡單,其中包含整體輻射功率(TRP)、可評估DUT發射器之效能指數(FOM)及整體參考靈敏度(TRS),負責評量DUT接收器的效能指數。CTIA則使用整體等向靈敏度(TIS)一詞來稱呼TRS。

TRP值是在整個輻射範圍中不同方向之發射功率的總合
TRS值則是DUT接收器的參考靈敏度

業界最初使用電波暗室來開發測試方法。CTIA與歐洲的COST273計畫針對量測不確定性進行大量的理論分析,總計推導出超過二十項參數誤差模型,最後計算所得的整體測試系統不確定性落在±2dB範圍內。接著,全球將近五十個CTIA認證實驗室以黃金樣品(Golden Radio)來驗證這項係數。此外,CTIA已開發出使用電波迴響室的替代測試方式,測試結果顯示類似的不確定性位準。

表1簡要列出TS 34.114針對DUT規範之最低UTRA(WCDMA)測試規格。表中所列的數據是放寬TS 25.144規範之測試容忍度所得的最低測試規格,亦即測試系統所容許之最大不確定性。3GPP通常會放寬整個測試系統的不確定性以降低最低測試規格,但是因為OTA的測試不確定性相當高(TRP為±1.9dB、TRS為±2.3dB),其放寬值被限制在測試系統最大容許不確定性的一半左右,以避免最低測試規格變得太寬鬆,導致不良品也可以通過測試。然而,這樣也同時會稍微提高良品無法通過測試的風險。

為了提升使用者的行動通訊體驗並改善網路品質,業界另外定義一個非強制性的建議測試指標。

表1所列出的數據並無法反映實際測試的完整細節。首先,TRP與TRS都是全範圍的量測平均值,其中方位角φ與仰角θ的刻度於TRP測試時以15度為單位步進,在TRS測試時,則以30度步進。在每個測試點中,對於DUT支援之所有頻段的低、中、高頻道,以及兩個正交的射頻極化方向如垂直與水平都會進行量測。DUT必須先以主要的機構模式進行測試,例如打開手機滑蓋或折疊式上蓋來進行測試。最低測試規格並未要求執行其他的機構測試,不過部分電信業者會要求所有的模式都要逐一測試。